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“第二期X射线荧光光谱分析技术与应用”培训班的通知

http://www.cis.org.cn 2008-08-12 15:32:48

中国仪器仪表学会将于将于200811月在苏州举办“第二期X射线荧光光谱分析技术与应用”培训班,培训结束经考试合格,颁发中华人民共和国人事部监制的继续教育证书。

授课专家:行业内有实际经验的专家授课 时间:20081135日(112日报到)地点:苏州

培训内容: 1.X射线荧光光谱分析基础;2. X射线荧光光谱光谱仪分类、结构、性能及仪器维护维修、定期检查和保养;3. X射线荧光光谱理论强度计算公式;4. X射线荧光光谱定性、半定量、定量分析;5.X射线荧光光谱分析基体校正;6.X射线荧光光谱薄膜和镀层分析;7.X射线荧光光谱分析取样、制样及样品保管;8.化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用;9.X射线荧光光谱分析不确定度评定;10.X射线荧光光谱玻璃熔融法分析样品的处理方法;11.X射线荧光光谱分析轻元素的处理方法;12. 电子、磁性材料、钢铁、非铁金属、化学工业、地质、窑业、矿业、水泥、石油、煤炭、环境等相关行业的实际应用13.典型样品的分析方法介绍和讲解; 14. X射线荧光光谱仪器及分析技术的最新进展15.讨论答疑

 培训费:每人1000元(包括授课费、讲义、文具、证书费等),食宿统一安排,费用自理。

报名方式:有意参加培训者请于20081028日前将《报名回执表》填写后,传真、E-mail或致电招生办公室。培训第一轮通知也可在中国仪器仪表学会官方网站上查看,网址:

联系电话:010-68364250/ 010-82800721          :010-68366340

联系人: 赵鹏  刘继红  燕泽程               

E-MAIL:training@cis.org.cnx_training@163.com

 

 

                                            中国仪器仪表学会

                                           20088

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